QJ84數(shù)字直流電橋參數(shù)

主要用于測(cè)量其范圍內(nèi)的直流電阻，適用于測(cè)量金屬導(dǎo)體、導(dǎo)線以及其它的接觸點(diǎn)電阻。數(shù)字電阻測(cè)量儀測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、顯示清晰；測(cè)量范圍寬、抗干擾能力強(qiáng)、外表美觀、操作方便，是理想的測(cè)量儀器。 精度：0.05%，分辨率：1μΩ，測(cè)量范圍： 1μΩ~1.9999kΩ SB2230數(shù)字電阻測(cè)試儀可替代傳統(tǒng)的QJ19、QJ44等電橋。

1、用途

直流數(shù)字電阻測(cè)試儀是一種由CMOS大規(guī)模集成電路組成的41/2位便攜式數(shù)字儀表，其測(cè)量結(jié)果用五位LED顯示。該表具有性能優(yōu)良，可靠性好，價(jià)格低廉，使用方便的特點(diǎn)，它還可用作為1μV~2V的電壓測(cè)量。直流數(shù)字電阻測(cè)試儀適合用來測(cè)量金屬導(dǎo)體、導(dǎo)線以及其它的接觸點(diǎn)的電阻。因此它可以使用于實(shí)驗(yàn)室、工礦現(xiàn)場(chǎng)等，是一個(gè)極為理想的測(cè)量儀器。

QJ84數(shù)字直流電橋參數(shù)

儀器具有寬頻測(cè)試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度，六位分辨率和自動(dòng)電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測(cè)試需要。
液晶單元的電容特性測(cè)量
電容－電壓（C－Vac)特性是評(píng)價(jià)液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測(cè)量液晶單元的C－Vac特性遇到一個(gè)問題是最大測(cè)試電壓不夠。
使用擴(kuò)展測(cè)量選件可提供分辨率為1%及最高達(dá)20Vms的可編程測(cè)試信號(hào)電平，使它能在最佳條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測(cè)量。
半導(dǎo)體材料和元件的測(cè)量
進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評(píng)價(jià)時(shí)，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測(cè)量結(jié)果推導(dǎo)出來。
通過提供的直流源，結(jié)合各種掃描功能，可以方便地完成C-VDC特性的測(cè)量。